Logo PCUVa vertical

Síguenos en

icono twitter  Síguenos en Facebook   

16 de marzo de 2020
Registrarse [Área Privada]

Seminario de Caracterización de Superficies mediante Microscopía AFM

La jornada, de caracter gratuito, tendrá lugar en la Sala Naranja del Parque Científico UVa
Valladolid, 27 de marzo de 2012

ScienTec Ibérica organiza, en colaboración con la Unidad de Microscopía Avanzada del Parque Científico UVa, un Seminario Práctico de Caracterización de Superficies mediante Microscopía AFM. La jornada, de caracter gratuito previa inscripción, tendrá lugar en la Sala Naranja del Edificio I+D (Paseo de Belén, 11. 47011 - Valladolid) de 9:30 horas a 14:00 horas.

Durante la sesión de trabajo, los asistentes dispondrán de un AFM operativo para realizar distintas medidas de las muestras que lleven los asistentes. Las muestras pueden ser de un tamaño de hasta 2 cm cuadrados y con una rugosidad inferior a 10 micras. Además, los usuarios con unos mínimos conocimientos de AFM podrán manejar el nuevo microscopio NANO-Observer.

Los asistentes que tengan pensado acudir con una muestra deberán remitir una breve descripción de la misma a info@scientec.es

 

PROGRAMA

PLANO DE SITUACIÓN 

Condiciones para realizar la Preinscripción

NO SE ADMITEN MÁS INSCRIPCIONES