Seminario de Caracterización de Superficies mediante Microscopía AFM
La jornada, de caracter gratuito, tendrá lugar en la Sala Naranja del Parque Científico UVa
Valladolid,
27 de marzo de 2012
ScienTec Ibérica organiza, en colaboración con la Unidad de Microscopía Avanzada del Parque Científico UVa, un Seminario Práctico de Caracterización de Superficies mediante Microscopía AFM. La jornada, de caracter gratuito previa inscripción, tendrá lugar en la Sala Naranja del Edificio I+D (Paseo de Belén, 11. 47011 - Valladolid) de 9:30 horas a 14:00 horas.
Durante la sesión de trabajo, los asistentes dispondrán de un AFM operativo para realizar distintas medidas de las muestras que lleven los asistentes. Las muestras pueden ser de un tamaño de hasta 2 cm cuadrados y con una rugosidad inferior a 10 micras. Además, los usuarios con unos mínimos conocimientos de AFM podrán manejar el nuevo microscopio NANO-Observer.
Los asistentes que tengan pensado acudir con una muestra deberán remitir una breve descripción de la misma a info@scientec.es
PROGRAMA
PLANO DE SITUACIÓN
Condiciones para realizar la Preinscripción
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