Seminario práctico de caracterización de superficies mediante microscopía AFM
La Sala Naranja del Parque Científico UVa acogerá la jornada en la que los asistentes podrán manejar el nuevo NANO-Observer
Valladolid,
27 de marzo de 2012
ScienTec Ibérica organiza, en colaboración con la Unidad de Microscopía Avanzada del Parque Científico UVa, un Seminario Práctico de Caracterización de Superficies mediante Microscopía AFM. La jornada tendrá lugar en la Sala Naranja del Edificio I+D (Paseo de Belén, 11. 47011 - Valladolid) de 9:30 horas a 14:00 horas.
La microscopia de fuerzas permite caracterizar muestras (conductoras y no conductoras) con una resolución nanométrica tanto lateral como vertical. Asimismo, la microscopía de fuerzas permite disponer de además de una morfología topográfica de información adicional de la muestra relacionada con sus propiedades mecánicas, eléctricas o magnéticas. El microscopio AFM permite asímismo caracterizar la rugosidad de las muestras.
Durante la sesión de trabajo, los asistentes dispondrán de un AFM operativo para realizar distintas medidas de las muestras que lleven los asistentes. Las muestras pueden ser de un tamaño de hasta 2 cm cuadrados y con una rugosidad inferior a 10 micras. Además, los usuarios con unos mínimos conocimientos de AFM podrán manejar el nuevo microscopio NANO-Observer.
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